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偏振態對干涉條紋對比度的影響

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摘要

在干涉測量技術中,干涉條紋對比度對測量精度的影響至關重要。干涉條紋對比度與兩相干光的振幅比、時間相干性、空間相干性有關,同時還與相干光的偏振特性有關。因此,本文基于泰曼-格林干涉儀的原理研究了不同偏振態對干涉條紋對比度的影響。同時,為快速計算條紋圖像的對比度,本文提出了一種基于matlab的干涉條紋對比度計算方法;最后通過分析對比實驗數據獲取偏振態和干涉條紋對比度間的關系。該研究成果可運用于干涉儀器或干涉實驗中,通過在光源處引入偏振調制來獲得對比度高的干涉條紋圖像,以提高測量精度。

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補充資料

DOI:10.3788/lop56.241202

作者單位:

    陜西省西安市西安工業大學光電工程學院
    西安工業大學陜西省薄膜技術與光學檢測重點實驗室
    西安工業大學 陜西省薄膜技術與光學檢測重點實驗室
    長春設備工藝研究所
    西安工業大學光電工程學院微系統研究所

引用該論文

勾鑫聰,田愛玲,朱學亮,王大森,劉衛國. 偏振態對干涉條紋對比度的影響[J].激光與光電子學進展,2019,56(24):241202.

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