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基于鎖相光電振蕩器的高靈敏度微波相位噪聲分析儀

發布:laserpulse    |    2019-06-28 00:37    閱讀:117
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相位噪聲是評估微波振蕩器短期穩定性的關鍵參數。該指標是許多應用程序的主要關注點。鎖相環(PLL)被廣泛用于提取相位噪聲。然而,由于參考的相位噪聲的限制,精確表征高頻載波的相位噪聲仍然是技術挑戰。為了解決這個問題,他們提出了一種使用基于光子參考的高靈敏度微波相位噪聲分析儀。通過結合光電振蕩器(OEO)和直接數字頻率合成器,他們實現了9 GHz至11 GHz頻率可調基準,相位噪聲為-140 dBc / Hz,10 kHz偏移,側模抑制比為128 dB,頻率切換時間為176 ns。由于這種低相位噪聲參考,他們獲得了一個X波段相位噪聲分析儀,在10 kHz偏移下具有-139 dBc / Hz的出色靈敏度,無互相關。這是第一次使用OEO實現基于PLL的相位噪聲分析儀。他們對我們提出的系統進行了徹底的理論分析。受益于獨立于頻率的OEO相位噪聲,他們提出的系統工作頻率可以擴展到毫米波范圍,同時保持高靈敏度。

圖1所提出的微波相位噪聲分析儀的系統結構。 SUT:被測信號。 LNA:低噪聲放大器。 DDS:直接數字合成器。 FFT:快速傅里葉變換。

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